ZEISS Sigma
蔡司 Sigma 系列產品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術與優(yōu)秀的用戶體驗完美的結合在一起。
產品詳情
更簡單、更智能、更集成
利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可以使得日常所需的成像和分析的效率得到提高，這樣，將會在比以往更短的時間內獲得更多的結果。另外，Sigma可以配備多種探測器，可以滿足各種不同的應用需求：顆粒物、表面構型、納米結構、薄膜樣品、涂層以及膜層等樣品的成像。采用 Sigma 系列產品將使您在高端成像領域獲得一席之地，其中：Sigma 300 具有極高的性價比；而Sigma 500 以其領先的 EDS 幾何設計實現卓越的分析性能。無論何種試樣，Sigma 都能以其高精確性及可重復的測量結果得到您的信賴！
靈活的探測手段獲取高分辨的圖像
Sigma 的最新探測器技術可以滿足不同需求。全方位的表征樣品的形貌，成分以及晶體結構等?？蛇x的lnLens Duo 探測器可實現在一個探測器上獲取形貌和成分兩種信息，因而更進一步擴展 Sigma 的成像性能。全新一代的二次電子探測器，其信號強度比之前提高 50%，從而可實現更高對比度以及更高分辨率的圖像。另外，在低真空環(huán)境中，全新的C2D 和 VPSE 探測器可實現對比度優(yōu)于之前探測器85% 的清晰的圖像。
智能并加速工作流程
Sigma 的 4 步工作流程可控制查找 Sigma 的所有功能。可快速獲取圖像，同時，節(jié)約在不同模式的了解時間，尤其在多用戶使用的情況下。第一步是圖像導航，在電鏡下直觀的進行樣品的導航和定位；接著，只需簡單的點擊鼠標便自動為不同樣品設置最優(yōu)的成像條件；下一步，使用自動智能成像模式在樣品上定義感興趣區(qū)域，便可自動實現在多個樣品上自動采集多組數據。最后，SmartBrowse 軟件將這些數據組處理并繪制成交互式的全景圖。這樣，對樣品便可有完整的理解。
先進的分析系統(tǒng)
Sigma 頂尖的 EDS 幾何設計能夠增強分析能力，尤其是對電子束敏感的樣品?？蓪崿F在之前一半的束流下得到分析數據，同時測試速度比之前快一倍。Sigma 系列產品能夠提供快速完整的 X 射線分析及三維重構。Sigma 將 EDS 探測器放置在 8.5mm 的工作距離和 35 度的出射角，通過將探測器的位置靠近樣品，可得到完全沒有陰影區(qū)域的分析結果。Sigma的先進分析系統(tǒng)，可成為值得依賴的選擇。
